Skenējošā jeb rastra elektronmikroskopā elektroni neiet cauri objektam, bet iegūtais attēls dod priekštatu par parauga virsmu. Objektu skennē ar nolieces spolēm. Tad notiek sekundārā elektronu emisija, ko uztver elektronu detektors. Gatavojot preperātu aplūkošanai skenējošā elektronmikroskopā, objekta virsmu apputina ar vielām, kuru atomi labi izkliedē elektronus, piemēram, svinu vai bismutu.…
